L-2000DE 射頻導納物位計如何區(qū)分 “結塊層” 與 “正常粉體”？

電容式射頻導納物位計在測量易吸濕潮解粉體（如氯化鈣）時，需通過以下技術手段區(qū)分潮解結塊層與正常粉體，并可能需濕度補償模塊：

一、區(qū)分潮解結塊與正常粉體的核心邏輯

?信號特征差異?

?正常粉體?：松散粉體呈現(xiàn)低電導（G）和高容抗（B），導納信號幅值穩(wěn)定但相位偏移較小?

?潮解結塊?：吸濕后形成導電性更強的黏附層，電導（G）顯著增加，同時容抗（B）降低，導納相位偏移明顯增加

?三層電抗干擾設計?

測量感知物料，屏蔽抵消掛料信號，接地護套穩(wěn)定電場基準。潮解層因導電性強，其信號會被屏弊主動過濾，避免誤觸發(fā)?

二、濕度補償模塊的必要性及算法邏輯

?補償必要性?

當環(huán)境相對濕度（RH）超過60%時，氯化鈣等粉體易潮解，導致介電常數(shù)變化，需通過濕度補償修正測量誤差?

?核心算法邏輯?

?數(shù)據(jù)采集?：集成溫濕度傳感器（如SHT30），實時監(jiān)測環(huán)境RH值及探頭表面濕度?

?模型訓練?：采用支持向量回歸（SVR）或SCA-PSO優(yōu)化算法，建立濕度-導納偏移量映射關系，例如：

補償值 = f(RH) × (G實測 - G基準) + B修正項

其中，f(RH)為濕度權重函數(shù)，隨RH升高動態(tài)調整?

?動態(tài)校準?：定期通過標準粉體測試更新基準參數(shù)，避免長期漂移?